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[电脑常识] 都说固态硬盘寿命短,那么谁把使用寿命用完了吗?

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发表于 2024-9-11 13:01:50 | 显示全部楼层 |阅读模式
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( N8 q7 @$ t( j7 w

' f' c  K$ d+ E$ V近日收到一个网友的提问,在这里粗浅表达一下见解:
) [" j1 U6 f: d- e) @
& m% G: q- X2 l“都说固态硬盘寿命短,那么有谁把使用寿命用完了么?或者说用完之后的表现是什么?寿命快用完之前有什么表现?”
0 h4 D& L4 w3 Q. Z) G+ u1 a+ t( j" |% d6 C
固态硬盘(Solid State Drives, SSD)作为计算机行业中最具革命性的技术之一,凭借其更快的读写速度、增强的耐用性和能效,已经成为大多数用户的首选存储方案。然而,如同任何其他技术一样,SSD也面临自身的挑战,其中首要问题之一便是数据可靠性。由于电源故障、电压波动以及磨损和老化等因素,存储在SSD中的数据可能会遭到破坏。6 Z8 N; s& C6 y0 O+ C0 }' d$ m
SSD的存储介质是什么,它就是NAND闪存。那你知道NAND闪存是怎么工作的吗?其实,它就是由很多个晶体管组成的。这些晶体管里面存储着电荷,代表着我们的二进制数据,要么是“0”,要么是“1”。NAND闪存原理上是一个CMOS管,有两个栅极,一个是控制栅极(Control Gate), 一个是浮栅(Floating Gate). 浮栅的作用就是存储电荷,而浮栅与沟道之间的氧化层(Oxide Layer)的好坏决定着浮栅存储电荷的可靠性,也就是NAND闪存的寿命。  e) o5 \, y/ H7 l" b2 l

! R9 p; m. x# I但是呢,这些晶体管的电荷可不是永久存在的。它们就像一群顽皮的孩子,喜欢跑来跑去。如果你经常让它们进行“擦除”和“写入”的操作(NAND闪存中,P/E Cycle,也称为擦除次数),它们就会觉得累,电荷的存储能力也会逐渐下降。直到有一天,它们再也不想存储电荷了,那这个时候,你的SSD的寿命也就差不多了。, n# @  ?2 U. q! U' B
4 B0 |- J) d& ^! g$ s
所以呢,SSD寿命评估的底层机理,其实就是计算NAND闪存的擦除和写入次数(P/E Cycle)。每个晶体管都有一个固定的擦除和写入次数,就像我们的腿一样,跑多了会累,会磨损。当这些晶体管达到一定的磨损程度时,它们就再也存储不了电荷了,这时候你的SSD可就要退休了哦!
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3 y& `: o( O1 e+ Z0 t' d+ e4 L
) y8 k8 y/ y3 L目前市面上主要流通的就是4种NAND类型:SLC、MLC、TLC、QLC。随着每个寿命从高到低依次是SLC>MLC>TLC>QLC,随着单个cell含有的bit数越多,NAND的可靠性也会有所降低。
+ A. g% f! W0 a$ Q! u% k  s4 \  W2 E5 Y4 z& b" ?" S: ^
在我们选择固态硬盘,经常看到宣传页面会显示xxTBW以及3年or5年质保。这里的TBW到底怎么理解?/ S* D! t' F% a2 T) S; J
12.jpg ) X) O9 J) h* D" o+ G% H
: y7 w5 g$ Q2 c+ [) ~
SSD寿命评估的指标主要包括两个:DWPD(Drive Writes Per Day)和TBW(Total Bytes Written)。, `1 C/ C, w5 J8 b; ?/ H: Q
8 t3 r. D( U# a5 K
DWPD,即每天可以写入SSD的数据量,是衡量SSD寿命的重要指标之一。一般来说,DWPD越大,SSD的寿命越长。使用年限的计算公式为:
, O& }# `8 {( [# {+ W1 y# i
  O( o& a, A6 P2 t使用年限 = (闪存P/E周期×SSD容量) ÷ 年写入数据量; Q* D8 q" K$ \! Q9 u
! @* Y* S7 j7 m. b8 U/ }3 G) s
其中,闪存P/E周期是NAND闪存的基本存储单元(浮栅晶体管)可进行擦除和编程的次数,这个值取决于NAND闪存的规格和制造商的规定。SSD容量表示其存储空间大小。年写入数据量则取决于用户的使用情况。
) ]& r* |* D" ^9 u/ H: x5 U
3 s' H) r4 c, i5 r# P另一个评估指标是TBW,即SSD在寿命周期内可以承受的总写入数据量。TBW的计算公式为:7 F/ u. R) @/ h8 b% ?  d6 `, v8 z: ]
% y* l, H( m2 a* j- I
TBW = (每扇区可编程次数×SSD总扇区数×每天写入次数) ÷ 每扇区可编程次数
, j/ s+ u. h* R7 B( r% H9 K) X2 \" |3 l4 E, h0 d7 Q! X
其中,每扇区可编程次数是指每个存储块(Block)可进行的编程次数,这个值取决于NAND闪存的规格和制造商的规定。SSD总扇区数表示其内部存储结构中的总扇区数。每天写入次数则根据用户使用情况而定。+ M. r) x  _# h4 @6 A7 ?6 ~  o! b

" x9 y5 l+ q* Q6 p5 @; O2 L# j- NDWPD和TBW都是用来衡量SSD寿命的指标,DWPD更关注每天的使用频率,而TBW则关注硬盘的总写入能力。一般来说,DWPD越大,TBW越大,SSD的寿命也越长,可靠性越高,但相应的价格也自然会上涨了。然而,这些指标只是评估SSD寿命的参考值,实际使用寿命还受到其他因素的影响,如工作负载、环境温度、SSD的写入策略等。8 G. B! F  D- z
如何查看SSD寿命?2 D2 Z1 p- A) Y

% q; S) _  H! d# s3 J$ o- L* p2 Cwindows下获取寿命的方式:使用CrystalDiskinfo
" A3 j( r& r$ R. G 11.jpg
" c7 o. }% B" @/ Q5 H# z1 c9 ?( ~( K% ^5 C' D% a9 S2 Z3 \
' R: ~, y) Z5 K/ t/ r( z
2 K& a+ T6 |) I3 Z0 `; }
3 a% t  _4 H% R, T, J; x
最后,SSD的寿命到期后,是否可以继续使用?虽然SSD的寿命主要是根据闪存单元的擦写次数预测的,但实际情况并不会完全按照预测发展。- L" N* J, B9 B0 v3 \
7 n0 o3 R/ n4 M6 p# g- e
即使SSD SMART显示寿命到了,它的存储单元可能仍然完好无损,因为厂商有一定余量,通常可以继续使用。此外,SSD拥有众多的数据保护机制,当SSD的寿命预计即将到期时,SSD会进入自我保护状态,降低写入量,减缓擦写次数,从而延长使用寿命。因此,即使SSD的寿命到期,用户也可以继续使用它,但是,此时SSD的性能可能会降低,数据可靠性也会受到影响,因此建议及时更换SSD。8 H8 X1 R( I3 P5 H) R8 O
此外, 有关SSD可靠性还有一个参数“平均无故障时间”,对应的参数是MTBF,比如这个盘MTBF=150万小时。
$ @/ ~$ s" X  X7 E# Z8 y0 ?
) \+ G2 n$ K5 f$ [* j小编发现有一些朋友对这个参数还有误解。大家看到这个参数误认为盘可以使用150万小时都没有发生故障。如果真的是这样,那么这盘的质量简直是逆天了!可以作为传家宝了。
' m/ A1 D' |% F3 \
( r/ h) ?( {: T: FMTBF是电子产品可靠性的一种基本参数,在规定的条件下和规定的时间内,产品的寿命单位总数与故障总次数之比。它通常用于评估产品的可靠性水平, ?  M& _2 ~9 A% T' w8 e+ V$ U' W
2 {; ^! o2 w$ v; n; J/ L
MTBF的原理基于概率统计的基础,它假设产品的故障符合指数分布,即故障率是恒定的。当产品发生故障时,MTBF可以计算出故障发生的概率,即失效率。MTBF的失效率是指单位时间内发生故障的概率,即每小时的故障率。. z/ G2 L7 |( R7 f7 e  y  T/ f( V
' z. {0 i8 t0 Z6 B. t/ B
另外,补充下,上面MTBF=150万小时是消费级SSD的,企业级SSD要求的可靠性更多,要求MTBF=200万小时以上。0 K  s  O3 Z, D5 c7 M7 a! X% {: O% y
! K/ |* H6 K, R( W! J, J  P
实际上,MTBF的计算大多数情况下是推算的,并不是实际测试的。MTBF是通过将样本总体观察总时间除以故障数量来获得的。如果假设有1000个盘每个运行1000小时,其中有五个故障(1000×1000/5),则MTBF=20万小时。
4 C% l4 v9 U8 e4 s( d/ C3 o& @
% {8 u0 q- W7 c5 k. A评估MTBF时,通常在电子产品“浴盆曲线”中的平稳期。
) Z) g9 W/ {( b# W7 v7 L! E2 O$ V3 ?3 ^
浴盆曲线是半导体产品可靠性质量知识分享中常用的一个术语,尽管特定的半导体产品的实际故障率曲线差异很大,但该曲线仍然具有一定的参考意义。% O$ f0 X8 Y. ~! g, P
1 \/ k/ ^+ u, d
该曲线以使用时间为横坐标,以失效率为纵坐标。由于该曲线两头高,中间低,类似于浴盆的形状,因此被称为“浴盆曲线”。
# Z& v8 j( T; v) @0 y' T7 m
( U: U, n2 G. ^: s  w( R) t5 G( U浴盆曲线可以分为三个阶段:  g$ w2 o& N- k! t

2 R$ R5 N) H7 X8 j早期故障期:这一阶段处于曲线的第一阶段,也是早期失效率高的时期。在这个阶段,产品刚刚投入使用,失效率相对较低,但会随着时间的推移而逐渐升高。这个阶段的特点是失效率上升速度较慢,且相对稳定,往往可以将其近似看作常数。在电子行业的产品可靠性指标中,这一阶段所描述的是产品在早期使用时的故障率逐渐升高的过程。
8 p4 q1 u2 N+ k5 L: E9 y0 T- C. H故障平稳期:这个阶段的产品已经过了早期故障期,进入了一个相对稳定的阶段。在这个阶段中,产品的失效率会保持在一个相对较低的水平上,而且波动较小。这表明产品的可靠性在这个阶段得到了提高,而且产品的失效率通常可以被认为是一个随机事件。
7 g5 |: L7 n9 H' U2 i* l严重故障期:随着产品使用时间的延长,会进入一个严重故障期。在这个阶段中,产品的失效率会急剧升高,故障率也开始呈现出明显的阶段性。这表明产品开始逐渐失去原有的功能,进入了一个失效加速的时期。
: O/ d( X3 M+ {1 S0 z$ z$ N- w+ T! S# L
1 n/ q- ^) n8 A2 u# y

  B) D2 {  p' a% x$ w8 N此外,MTBF与另外一个参数AFR可以互相推算。
& ^- F! g6 _2 O& |- h& y5 p# g, c
AFR(Annual Failure Rate,年度故障率)是指一年内设备损坏的概率。它的计算公式为:AFR=总故障次数/总工作时间×100%。
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将MTBF和AFR的计算公式结合起来,可以得到它们之间的换算关系:4 `- q3 ]- P) e0 `
AFR=总故障次数/总工作时间×100%=故障次数/MTBF×100%8 E6 {$ F" z' V# X# X. }- C
MTBF=总工作时间/故障次数=总工作时间/(总工作时间×AFR)=1/AFR* d1 [9 G" ]4 i7 M6 B$ V
例如,如果一块硬盘的MTBF为200万小时,则它的AFR为:AFR=1/(200万小时÷24÷365)≈0.44%,表示每100块硬盘中平均每年损坏0.44块。
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' x0 ?+ q& Z) i+ K1 s, X$ Y
当然你也可以直接拨打电话13101986181,让我帮你组装电脑,装机!& A) _; r: _. m
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